上海光学仪器厂

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光洁度类仪器

JDG-S2 数显立式光学计

JDG-S2  数显立式光学计

数显立式光学计JDG-S2是以直接法或比较法测量工件的尺寸。它可对五等量块、量棒、钢球、线形及平行平面状精密量具和零件的外型尺寸作精密测量。本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研、生产过程控制及在线检测 等方面,对被测件作位移测量,是检测部门常用的计量仪器。

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JDG-S2  数显立式光学计

9J 光切法显微镜

9J  光切法显微镜

光切法显微镜9J是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。其能判别国家标准GB1031-1995所规定测量范围1.0~80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度

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9J  光切法显微镜

光谱投影仪8W

光谱投影仪8W

光谱投影仪8W为摄谱仪成套设备之一,主要用于对摄谱仪所摄下之光谱底板通过投影放大,与标准谱板或已知浓度的光谱进行定性或半定量分析。也可作为一般投影放大用。原理光源发出的光线被反射镜、聚光镜射至底板上,照明了直径为15毫米的面积。聚光镜光路由镀铝的平面反射镜折转55°。隔热玻璃用以消除热辐射对聚光系统的影响。投影物镜使光谱经平面反射镜投影到投影屏上,特殊棱镜使光谱底板的乳胶面朝上时,波长刻尺保持直立。旋转附加透镜可以使放大倍数由19.75倍改变到20.25倍。加上透镜使灯丝成像于投影屏上,用于调节照明强度。

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光谱投影仪8W

6JA 干涉显微镜

6JA  干涉显微镜

干涉显微镜6JA是用来测量精密加工零件(平面、圆柱等外表面)光洁度的仪器,也可以用来测量零件表面刻线,镀层等深度。仪器配以各种附件,还能测量粒状,加工纹路混乱的表面,低反射率的工件表面,同时还能将仪器安置在工件上,对大型工件表面进行测量。仪器测量表面不平深度范围为1~0.03微米,用测微目镜和照相方法来评定▽10~▽14光洁度的表面。本仪器适用于厂矿企业计量室,精密加工车间,也适用于高等院校,科学研究等单位。

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6JA  干涉显微镜

测微光度计9W

测微光度计9W

测微光度计9W是摄谱仪器的成套设备之一。测微光度计又名显微光度计或黑度计,主要用途是对各种摄谱仪所摄下之谱片进行黑度测量,以确定被测元素的含量完成光谱定量分析工作。还可用于照相膜层之密度检查和感光能力检查,以及配合其它光学仪器作象差测量等。

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测微光度计9W