
磨痕划痕测量分析系统53X-UV
产品描述
53X-UV磨痕划痕测量分析系统,系统配置了高清晰度的显微镜、JVC摄像头和专业的图像测量分析软件UV。可对磨痕划痕进行测量和分析。显微镜放大倍数:50X-625X
图像测量分析软件UV是一款功能强大、性价比极高,也是最常使用的专业显微图像测量软件。全中文界面、操作简便、易掌握,可实现图像实时采集、抓取、实时分析、储存、编辑、测量及离线处理,具有通用性和可扩展性。
显微镜参数:
| 1 | 平场目镜 | WF10X/ф18、WF12.5X/ф15 mm 10X(分划目镜) |
| 2 | 消色差物镜: | 4X/0.1、 10X/0.25、40X/0.65(半平场) |
| 3 | 总放大倍数 | 50X-625X |
| 4 | 三目观察头: | 滑板式45°倾斜 |
| 5 | 转换器: | 四孔 |
| 6 | 粗微调调焦范围: | 2um 粗微动同轴调焦 试样最高高度为90mm |
| 7 | 载物台: | 双层机械式 尺寸180X150mm |
| 8 | 载物台移动范围: | 移动范围 70X50mm |
| 9 | 光瞳距离: | 50-75mm 辅助倍数1.25 |
| 10 | 机械筒长: | 160mm |
| 11 | 偏光装置 | 带简易偏光装置(检片装在仪器上) |
| 12 | 照明: | 亮度可调 带可变光栏 卤钨灯泡 6V20W |
| 13 | 仪器重量 | 净重8kg 毛重11kg |
| 14 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸24X31X42(cm) 包装尺寸26X44X45 (cm) |
系统配置:
| 1、 | 三目正置金相显微镜53X | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 2、 | JVC摄像头 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 3、 | 摄像适配器 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 4、 | 图像采集卡 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 5、 | 图像测量分析软件UV | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 6、 | 台式机或笔记本电脑、打印机(选购)、XP系统、硬盘60G、内存512M、独立显卡512M以上、USB2.0接口 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 产品成套性 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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